光伏组件　电势诱导衰减测试方法　第1-1部分：晶体硅组件　分层

Photovoltaic modules—Test methods for the detection of potential-induced degradation—Part 1-1:Crystalline silicon—Delamination

标准介绍

本文件描述了单玻或双玻晶体硅光伏组件层压件部分电势诱导衰减引起的分层(PID-d)失效现象的测试和评估方法，用于评估因接地和组件电池电路之间的电流传输而引起的分层。本文件测试方法中加速导致分层的影响因素包括湿热暴露、界面上的钠积累、电池电路中的阴极气体析出、金属化以及组件中其他部件因电压刺激而导致的黏附性降低，不包括应力因素导致的晶体硅光伏组件功率变化(该内容在IEC TS 62804-1的范围)。
本文件规定的测试方法是在湿热环境箱中对组件进行测试，并在组件两极施加组件说明书中规定或允许的最大系统电压。组件对系统电压应力的实际耐久性取决于安装设计和组件运行的环境条件，本测试方法是在不考虑不同气候和系统条件下组件运行时承受的实际应力的前提下评估光伏组件层压件对PID-d的敏感性。
本文件不适用于区分某些可能在不同程度上对组件表面进行电气隔离的抑制PID的工程方法的影响，比如使用后轨支架安装、边缘夹具夹持安装和绝缘边框等。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会