智能计算　忆阻器测试方法　第1部分：基础特性

Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics

标准介绍

本文件规定了忆阻器测试装置与环境条件要求，描述了忆阻器读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试方法，并规定了测试报告要求。
本文件适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。

提出部门

全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会