半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第9部分：一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法

Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9:Performance testing methods of one transistor and one resistor(1T1R) resistive memory cells

标准介绍

本文件描述了一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元的性能测试方法。本文件中的性能测试方法所测试的性能包括读、电预处理、置位、复位、耐久性和保持性。
本文件适用于柔性和刚性电阻存储器件，且不受器件的工艺和尺寸限制。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会