半导体器件　机械和气候试验方法　第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices

标准介绍

本文件确立了非易失性存储器(以下简称“器件”)根据鉴定规范进行有效的耐久性、数据保持和交叉温度试验的程序。耐久性和数据保持鉴定规范鉴定要求(针对循环计数、保持时间、温度和样本量)参考JESD47或者类似JESD94中的方法。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会