晶体硅光伏组件　光热诱导衰减(LETID)试验　检测

C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation(LETID) test—Detection

标准介绍

本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。
本文件适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会