Methods for chemical analysis of tantalum and niobium—Part 6:Determination of silicon content—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
GB/T 15076的本部分规定了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钽、铌中硅含量。
本部分适用于钽、铌及其氢氧化物、氧化物、碳化物和氟钽酸钾中硅含量的测定。测定范围:0.000 5%~0.50%。
中国有色金属工业协会
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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