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Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器(以下简称“器件”)电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
中华人民共和国工业和信息化部
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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