Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
本文件规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。
本文件适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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