纳米技术　表面增强拉曼固相基片均匀性测量　拉曼成像分析法

Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis

标准介绍

本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。

提出部门

中国科学院

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会