集成电路　电磁抗扰度测量　第3部分：大电流注入(BCI)法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3:Bulk current injection (BCI) method

标准介绍

本文件描述了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下利用大电流注入(BCI)法测量集成电路(IC)抗扰度的试验方法，例如，由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。这种方法仅用于有板外连线的IC，例如连接到电缆束。本试验方法把RF电流注入到一根或一组线缆。
本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会