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Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分(TDI)CMOS图像传感器(以下简称器件)参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
中华人民共和国工业和信息化部
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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