Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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