Test method for flaws in Cu-W electrical contacts
本文件描述了用渗透探伤检测铜钨电触头的裂纹、孔洞和局部疏松以及铜钨整体电触头的界面裂纹和夹杂物、铜端裂纹和气孔等常见缺陷的方法。
本文件适用于对铜钨电触头和铜钨整体电触头开放性缺陷的检测,不适用于对铜钨电触头和铜钨整体电触头封闭性缺陷的检测。
中国电器工业协会
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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