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Displacement damage test method for components
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件,如电荷耦合器件(CCD)、光电耦合器、图像敏感器(APS)、光敏管等,用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
中华人民共和国工业和信息化部
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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