集成电路　电磁抗扰度测量　第2部分：辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2:Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method

标准介绍

本文件描述了集成电路（IC）对射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。本文件适用的频率范围为150 kHz～1 GHz或为TEM小室和宽带TEM小室的特性决定的频率范围。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会