集成电路　脉冲抗扰度测量　第3部分：非同步瞬态注入法

Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3:Non-synchronous transient injection method

标准介绍

本文件规定了集成电路（IC）对标准传导电瞬态骚扰的抗扰度测量方法。与受试器件（DUT）运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。不管电瞬态骚扰是否在IC规定的工作电压范围之内，本方法都能够得到传导电瞬态骚扰和其引起的IC性能降级之间的相互关系并对其进行分类。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会