Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1: 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2: 该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。
注3: 对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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