半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法

Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory

标准介绍

本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法,包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性,而不是可靠性。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会