表面化学分析　扫描探针显微术　用原子力显微镜和两点JKR法测量柔顺材料弹性模量的程序

Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

标准介绍

本文件描述了使用原子力显微镜（AFM）测量柔顺材料弹性模量的程序。通过测量柔顺材料表面的力-距离曲线，并使用基于JKR模型理论的两点法进行分析。
本文件适用于弹性模量范围为100 kPa～1 GPa的柔顺材料。空间分辨取决于AFM探针和表面之间的接触半径，通常约为10 nm～20 nm。

提出部门

全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会