光学系统波前像差的测定　夏克-哈特曼光电测量法

Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method

标准介绍

本文件描述了采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的原理及方法、测量条件、设备及装置、测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的测量，也适用于光学零件面形偏差的测量。

提出部门

中国科学院

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会