集成电路　电磁发射测量　第4部分：传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4:Measurement of conducted emissions—1 Ω/150 Ω direct coupling method

标准介绍

本文件规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150 Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。

提出部门

中华人民共和国工业和信息化部

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会