Resistive memory cell electrical parameter test sepcification
本文件规定了阻变存储单元擦写、耐久性和数据保持等测试方法。
本文件适用于阻变存储器器件的测试。
本文件不适用于包含外部驱动电路的存储单元。
中国电子学会可靠性分会
中国电子学会
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