带电粒子半导体探测器测量方法

Test procedures for semiconductor charged particle detectors

标准介绍

本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。
本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。

提出部门

全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30)

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会