提示:
您还不是该级别会员,暂无权限使用此功能。
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
本文件描述了非本征半导体单晶材料霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
纸质版标准加购成功
电子版标准加购成功
标准收藏成功