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  • 非易失性相变存储器电性能测试方法

    Measuring methods of electrical properties for non-volatile phase change memory

  • 标准编号:T/CIE 155-2023 现行 发布日期: 2023-03-20 实施日期: 2023-03-20 标准ICS号:31.200 中标分类号:L56
  • 标准介绍

    本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法,分为器件性能测试和器件可靠性测试,器件性能测试包括电流电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗;器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。本文件适用于相变存储器件单元(以下简称器件)。

  • 提出部门

    中国电子学会

  • 发布部门

    中国电子学会

关联标准

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