Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
本文件描述了在常规分析条件下从特定样品获得的X射线光电子能谱(XPS)数据中评估元素检测限并给出报告的程序。本文件适用于均匀材料,对XPS信息深度内元素深度分布不均匀的材料不适用。
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
纸质版标准加购成功
电子版标准加购成功
标准收藏成功