Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
本文件规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息,也提供了峰强度测量方法和导出的峰面积不确定度的信息。
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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